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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司宣布，已與ThetaMetrisis達(dá)成合作協(xié)議，成為其薄膜厚度測(cè)量設(shè)備在中國(guó)大陸、香港特別行政區(qū)、馬來(lái)西亞及菲律賓市場(chǎng)的代理商。這一消息標(biāo)志著岱美將負(fù)責(zé)ThetaMetrisis旗下先進(jìn)膜厚測(cè)量解決方案在中...
直接鍵合設(shè)備是一種自動(dòng)化的單腔室生產(chǎn)鍵合機(jī)，設(shè)計(jì)用于中試線(xiàn)生產(chǎn)以及用于晶圓級(jí)封裝，3D互連和MEMS應(yīng)用的大批量生產(chǎn)的研發(fā)。它是基于模塊化設(shè)計(jì)，為我們未來(lái)的晶圓鍵合工藝從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)的全集成生產(chǎn)鍵合系統(tǒng)過(guò)渡提供了可靠的解決方案。應(yīng)用：薄晶圓臨時(shí)鍵合解鍵合，將已經(jīng)鍵合的材料從載板上剝離。應(yīng)用于TSV，儲(chǔ)存器，CMOS，功率器件等的加工過(guò)程。產(chǎn)品特性：1、高溫度、高壓力、高真空選項(xiàng)，滿(mǎn)足各種鍵合工藝參數(shù)；2、精度溫度控制；3、精度壓力控制；4、適用于超厚晶圓；5、壓盤(pán)自調(diào)節(jié)設(shè)...
白光干涉儀能夠在同一測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行多種測(cè)試，產(chǎn)品的組合可根據(jù)不同的技術(shù)應(yīng)用要求而改變。針對(duì)樣品的同一區(qū)域可進(jìn)行不同模式的實(shí)驗(yàn)檢測(cè)，模式切換可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化。多項(xiàng)技術(shù)的整合能夠使不同技術(shù)在同一檢測(cè)儀上充分發(fā)揮各自的優(yōu)勢(shì)。該項(xiàng)整合技術(shù)不僅有利于數(shù)據(jù)的綜合分析，也可以減少維護(hù)成本，從而提高效率。白光干涉儀工作原理：白光干涉儀是利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器。照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個(gè)表面反射的兩束光再次通過(guò)分光鏡后合成...
接近式光刻機(jī)在單室設(shè)計(jì)上可以滿(mǎn)足研發(fā)工作，與EVG的自動(dòng)化系統(tǒng)*兼容。EVG101支持大300mm的晶圓，可配置為旋涂或噴涂和顯影。使用EVG先進(jìn)的OmniSpray涂層技術(shù)，在3D結(jié)構(gòu)晶圓上實(shí)現(xiàn)光刻膠或聚合物的共形層，用于互連技術(shù)。這確保了高粘度光致光刻膠或聚合物的低材料消耗，同時(shí)改善了均勻性并防止了擴(kuò)散。它的分類(lèi)：接近式光刻機(jī)一般根據(jù)操作的簡(jiǎn)便性分為三種，手動(dòng)、半自動(dòng)、全自動(dòng)1、手動(dòng)：指的是對(duì)準(zhǔn)的調(diào)節(jié)方式，是通過(guò)手調(diào)旋鈕改變它的X軸，Y軸和thita角度來(lái)完成對(duì)準(zhǔn)，對(duì)準(zhǔn)精...
您還在為低頻振動(dòng)為電鏡帶來(lái)的干擾而苦惱嗎？您還在為選擇怎樣的防震設(shè)施而苦惱嗎？您還在為防震設(shè)備的性能而擔(dān)憂(yōu)嗎？好消息，我們一次為您解決以上所有的問(wèn)題，進(jìn)口的AVI系列主動(dòng)式防震臺(tái)，現(xiàn)在可以免費(fèi)試用了，不需增加SEM高度的方案！只需調(diào)節(jié)平衡角就能完成安裝的方案??！同時(shí)提供場(chǎng)地的免費(fèi)測(cè)量服務(wù)?。☆A(yù)約樣機(jī)試用處：請(qǐng)與岱美有限公司聯(lián)系期待您的來(lái)電?。榱俗C實(shí)主動(dòng)式防震臺(tái)可以對(duì)各種納米級(jí)分辨率顯微鏡（STM、SEM、TEM），因減振后令成像質(zhì)量提升的各種說(shuō)法及疑慮，岱美中國(guó)于今年初引入...
納米壓痕儀是近期比較受關(guān)注的一個(gè)儀器，可能很多人都不知道它到底是干嘛的，有什么特性，今天岱美儀器小編就帶大家來(lái)詳細(xì)了解下它的結(jié)構(gòu)功能特性以及在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用情況。我們先了解它的性能，納米壓痕儀能通過(guò)實(shí)時(shí)記錄力和對(duì)應(yīng)位移深度的曲線(xiàn)來(lái)測(cè)量納米或微米級(jí)薄膜材料力學(xué)性能。該儀器不僅提供納米壓痕功能，同時(shí)也提供納米劃痕功能和臺(tái)階儀功能，不僅可以滿(mǎn)足薄膜硬度、彈性模量等性能的測(cè)量，還可實(shí)現(xiàn)薄膜與基體之間的結(jié)合力和定量表面形貌的測(cè)量。其電磁驅(qū)動(dòng)器具有很好的力和位移動(dòng)態(tài)范圍，可測(cè)量6個(gè)數(shù)量級(jí)...